英国国家物理实验室的研究人员及其合作者证实，Orbitrap-SIMS 能够在无需额外样品制备的情况下，直接在表面识别并绘制相似分子的分布图。
难点在于，化学式和质量相同但原子排列不同的分子（即结构异构体）在依赖质量的常规成像中显得完全一致。该团队利用了静电场轨道阱二次离子质谱（OrbiSIMS）技术。研究人员调控了样品所产生离子在仪器内部裂解以及穿过气体的状态，从而揭示出与分子结构相关的差异。
研究人员在三种互为结构异构体的糖类分子上对该方法进行了测试：棉子糖、麦芽三糖和松三糖。他们还绘制了混合物中棉子糖和麦芽三糖的分布位置。据报道，所得的成像图样与离子迁移谱比对的结果高度吻合。
该研究成果于 10 月 17 日发表在《自然·通讯》（Nature Communications）上。这项技术有助于研究人员探究不同糖类及其他同分异构体在复杂样品中的分布情况。此次演示主要针对这三种用于测试的糖类。
若要将该方法推广应用至其他分子和生物材料，仍需开展进一步研究。